北京半導體實驗室介紹 北京軟件產(chǎn)品質量檢測檢驗中心（簡稱：北軟檢測）成立于2002 年7月，是經(jīng)北京市編辦批準，由北京市科學技術和北京市質量技術監(jiān)督局聯(lián)合成立的事業(yè)單位。2004年1月，質量監(jiān)督檢驗檢疫總局批準在北軟檢測基礎上籌建應用軟件產(chǎn)品質量監(jiān)督檢驗中心（簡稱：國軟檢測），2004年10月國軟檢測通過驗收并正式獲得授權，成為我國個級的軟件產(chǎn)品質量監(jiān)督檢驗機構。 中心依據(jù)標準 ISO/IEC 17025：2005《檢測和校準實驗室能力認可準則》和ISO 9001：2015《質量管理體系要求》建立了嚴謹?shù)馁|量體系，擁有的軟件測試平臺，2600平方米的測試場地，1000多臺套的測試設備和上百人的測試工程師隊伍。目前具有資質認定計量認證（CMA）、資質認定授權證書（CAL）、實驗室認可證書（CNAS）、檢驗機構認可證書（CNAS）、信息安全風險評估服務資質認證證書（CCRC），信息安全等級保護測評機構（DJCP）、ISO 9001：2015質量管理體系認證、ISO/IEC 27001：2013信息安全管理體系認證等各種資質。 ??智能產(chǎn)品檢測實驗室，能夠依據(jù)、國內和行業(yè)標準實施檢測工作，開展從底層芯片到實際產(chǎn)品，從物理到邏輯全面的檢測工作，提供芯片預處理、側信道攻擊、光攻擊、侵入式攻擊、環(huán)境、電壓毛刺攻擊、電磁注入、放射線注入、物理安全、邏輯安全、功能、兼容性和多點激光注入等安全檢測服務，同時可開展模擬重現(xiàn)智能產(chǎn)品失效的現(xiàn)象，找出失效原因的失效分析檢測服務，主要包括點針工作站（Probe Station）、反應離子刻蝕（RIE）、微漏電偵測系統(tǒng)（EMMI）、X-Ray檢測，缺陷切割觀察系統(tǒng)（FIB系統(tǒng)）等檢測試驗。實現(xiàn)對智能產(chǎn)品質量的評估及分析，為智能裝備產(chǎn)品的芯片、嵌入式軟件以及應用提供質量。